可程式高低溫試驗(yàn)箱檢測(cè)計(jì)量時(shí)注意幾點(diǎn)
更新時(shí)間：2017-04-28 點(diǎn)擊量：2547
可程式高低溫試驗(yàn)箱是各行業(yè)必須的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，主要適用于測(cè)試和確定電子電工、材料及其他產(chǎn)品在進(jìn)行高溫、低溫或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。(簡(jiǎn)單定義為：檢測(cè)產(chǎn)品是否耐高溫、低溫或恒定試驗(yàn))目前生產(chǎn)廠家繁多，在計(jì)量時(shí)廣大客戶(hù)應(yīng)注意以下幾個(gè)事項(xiàng)：
一、高低溫試驗(yàn)箱的計(jì)量項(xiàng)目、方法、計(jì)算
A、計(jì)量特性：溫濕度偏差、溫濕度波動(dòng)度、溫濕度均勻性
B、名詞解釋?zhuān)篴、均勻度：環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間某一時(shí)刻各測(cè)試點(diǎn)(溫濕度)之間的差異。(簡(jiǎn)單定義為：點(diǎn)與點(diǎn)之間的溫差)b、波動(dòng)度：環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間中心點(diǎn)參數(shù)隨時(shí)間的變化量。(簡(jiǎn)單定義為：一個(gè)點(diǎn)的跳動(dòng)值)c、偏差：設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測(cè)量點(diǎn)的實(shí)測(cè)zui高值和實(shí)測(cè)zui低值與標(biāo)稱(chēng)值的上下偏差。
C、計(jì)量方法：
1、計(jì)量在空載條件下進(jìn)行。若帶有負(fù)載，應(yīng)在證書(shū)中說(shuō)明負(fù)載情況。
2、計(jì)量濁濕度點(diǎn)一般應(yīng)選擇設(shè)備使用范圍的上限、下限及中心點(diǎn)，也可根據(jù)用戶(hù)需要選擇實(shí)際常用的溫濕度點(diǎn)
3、計(jì)量點(diǎn)的位置：設(shè)備容積小于2m3時(shí)，溫度點(diǎn)9個(gè)，濕度點(diǎn)3個(gè)設(shè)備容積大于2m3，溫度點(diǎn)15個(gè)，溫度點(diǎn)4個(gè)
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